Vytištěno ze stránky https://www.spektrometry.cz/mereni-tloustky-vrstev/bowman-p-series/index.php

Bowman P Series – profesionální XRF systém pro měření tloušťky vrstev

Bowman P Series XRF nabízí vysoce přesnou XRF analýzu s programovatelným stolkem X-Y, vhodným pro různé aplikace.

Bowman P Series – stolní XRF spektrometr pro měření tloušťky povlaků

Výhody pro průmyslové aplikace

Bowman P Series XRF je všestranný a flexibilní analyzátor určený k měření široké škály velikostí, tvarů a množství vzorků. Je vybaven vysoce přesným motorizovaným stolem X-Y a poskytuje přesné ovládání pro testování kritických oblastí na dílech. Díky vícebodovému programování pro automatizované vysoce výkonné aplikace, nejmodernější optice a shodě s globálními standardy je nezbytným nástrojem pro aplikace, jako je testování desek plošných spojů, elektrických konektorů a široké škále vysoce výkonných pokovovacích aplikací.

Vlastnosti a výhody

Klíčové vlastnosti Bowman P series XRF:

  • SDD detektor s vysokým rozlišením: vhodný i pro ty nejnáročnější aplikace při měření tloušťky vrstvy (XRF coating thickness)
  • Rentgenka s mikrofokusem: zajišťuje nejlepší excitaci pro rychlejší měření povlaků
  • Shoda se standardy: garantovaná shoda se standardy IPC-4552, 4553, 4554 and 4556.
  • Shoda s požadavky pokovovacího průmyslu: Splňuje požadavky norem DIN EN ISO 3497 a ASTM B568.
  • Široký prvkový rozsah: hliník (Al) - uran (U).
  • Programovatelný motorizovaný X-Y stolek: přesné polohování vzorků a více bodová měření. Ideální pro malé komponenty na deskách PCB nebo automatizaci více měřících bodů (automatizované XRF měření).
  • Více ohniskových hloubek s laserovým automatickým ostřením: rozsah ohniskové hloubky 6 mm – 64 mm pro měření do zapuštěných oblastí vzorku.
  • Více kolimátorů: 4 kolimátory pro flexibilitu velikosti bodu při XRF měření tloušťky. Volitelné možnosti zahrnují velké kolimátory pro analýzu pokovovací lázně.
  • Možnost upgradu: Rozšířené možnosti stolku pro vzorky pro velké desky plošných spojů (coating thickness measurement). Pro speciální aplikace je k dispozici velkoplošný SDD.
  • Navrženo a vyrobeno v USA: Důvěryhodná kvalita a původ.

Video a technické parametry:

 

O Bowman P Series XRF

Vzhledem k tomu, že se stále více průmyslových odvětví obrací na stolní rentgenovou fluorescenční analýzu (XRF) jako prostředek pro testování kvality produktů, je potřeba flexibilního systému s vysokou specifikací větší než kdy dříve. Bowman XRF řady P se stává řešením této rostoucí potřeby v široké škále odvětví. Nejmodernější optika, vysoce flexibilní konfigurace a automatizované měřicí funkce jsou vše zabudovány do kompaktního provedení. XRF řady P se standardně pyšní širokou škálou pokročilých funkcí. Plně programovatelný stolek X-Y umožňuje automatizaci vícebodových měření nebo dávkových vzorků. To je dále doplněno pokročilými softwarovými funkcemi, jako je rozpoznávání vzorů vzorků, které automaticky vybírá stejné prvky na desce plošných spojů nebo jiném vzorku.

Variabilní ohnisková vzdálenost 6 mm – 64 mm umožňuje měření i v zapuštěných oblastech vzorku. Dlouhotrvající 50W mikrofokusační rentgenka, optika s úzkou vazbou, vysoce výkonný SDD detektor a automatické ostření na jeden dotek se spojují a nabízejí nejrychlejší možné časy měření. Kamera s vysokým rozlišením a 30násobným zvětšením poskytuje přesné snímkování vzorku pro polohování a sledovatelnost výsledků.

Všechny výše uvedené vlastnosti v kombinaci s garantovaným souladem společnosti Bowman s normami, jako jsou IPC-4552, 4553, 4554, 4556, ASTM B568 a DIN EN ISO 3497, činí z řady P ideální volbu pro výrobu desek plošných spojů a poskytují spolehlivé, přizpůsobivé a efektivní řešení pro mnoho dalších odvětví.

Bowman P series XRF

Konfigurace měření shora dolů

Nejflexibilnější konfigurace pro širokou škálu vzorků.

Motorizovaný XY stolek - XY programovatelný stůl

Přesně polohovatelný stolek s možností plně automatizovaného měření více bodů a tvorby map povlaků na ploše součásti.

Veliká vzorková komora

XRF velká komora - 140mm (výška) x 310mm (šírka) x 335mm (hloubka). Na rozdíl od konkurenčních systémů je P Series navržena pro měření velmi velkých vzorků. Přístroj umožňuje měřit nejen malé díly, ale i rozměrné komponenty – bez nutnosti úprav.

Konstrukce s drážkovou komorou

Ideální pro desky plošných spojů

Měření tloušťky povlaků na desce plošných spojů (PCB) v přístroji Bowman P Series

Aplikace a vzorky

Splňuje mezinárodní normy: IPC-4552/4553/4554, ASTM B568, ISO 3497. Časté aplikace jsou : Měření tloušťek na PCB a elektronice (PCB coating thickness measurement), měření galvanických vrstev (Cu/Ni/Au, Zn/Ni, Sn), měření tloušťky galvanické vrstvy na malých dílech, měření tloušťky na velkých objektech díky velké komoře a automatické měření více bodů. Z hlediska metrologie je důležitá metrologická návaznost (traceable to NIST) a pro nastavení jsou vždy použity certifikované referenční materiáky (CRM - certifikované měřící standardy).

Pokud hledáte přístroj pro měření zlata na PCB (gold plating thickness measurement), měření povlaků na šroubcích, měření vícevrstvých nánosů či měření tloušťky niklování u kovových spojovacích prvků nebo pro další aplikace (multi-layer coating analysis), je pro Vás Bowman P Series tím správným řešením.

SPECIFIKACE BOWMAN XRF P SERIES PRO TRH ČR A SR:

BOWMAN P SERIES XRF

Zjistit cenu
Prvkový rozsah

Hliník (Al) až Uran (U)

Zdroj buzení

50 W (50kV a 1mA) micro-fokusovaná rentgenka s W anodou - měření tenkých povlaků i pod 0,1 µm

Detektor

SDD detektor s rozlišením 190eV nebo lepším. Vysoké rozlišení SDD - přesnost i u komplexních povlaků

Počet analyzovaných vrstev a prvků

5 vrstev (4 vrstvy + podklad) a 10 prvků v každé vrstvě s možností simultánního stanovení až 25 prvků

Filtry/kolimátory

4 primární filtry / 4 motorizované kolimátory

Hloubka ohniska

Vícenásobná s laserem.

DPP

Digitální vícekanálový analyzátor 4096 kanálů s flexibilním tvarováním času; automatické zpracování signálu včetně korekce mrtvého času a korekce únikových špiček

Počítač

Procesor Intel Core i5 3470 (3,2 GHz), 8 GB paměti DDR3, Microsoft Windows 11 Pro, 64bitový ekvivalent - na přání výkonnější varianta

Optika kamery

1/4" (6mm) CMOS s rozlišením VGA 1280×720

Zvětšení videa

30násobný mikro a 7násobný digitální zoom: Standardní; 55násobný mikro: Volitelný

Napájení

150W - 230V - 16A

Provozní prostředí

Od 10°C do 40°C do až 98% vlhkosti (nekondenzující)

Hmotnost

50kg

Stolek X-Y

Velikost stolu: 381 mm (15") x 310 mm (13") | Pojezd: 152 mm (6") x 127 mm (5")

Rozšířený programovatelný XY

Velikost stolu: 635 mm (25") x 635 mm (25") | Pojezd: 254 mm (10") x 254 mm (10") Nyní k dispozici s prodlouženou variantou stolu.

Vnitřní rozměry

Výška: 140 mm (5,5 palce), Šířka: 310 mm (12 palců), Hloubka: 340 mm (13 palců)

Vnější rozměry

Výška: 450 mm, Šířka: 450 mm, Hloubka: 600 mm

Často kladené dotazy k Bowman P Series

Na jaké aplikace je Bowman P Series nejvhodnější?

Bowman P Series je navržený především pro měření tloušťky galvanických povlaků a pájecích vrstev v elektronice (PCB, konektory, lead-frame), ale stejně dobře zvládá i měření povlaků v galvanovnách, automotive a strojírenství. Díky velké komoře a programovatelnému XY stolu je vhodný pro malé díly, celá osazená PCB i rozměrnější komponenty.

Jaké povlaky a materiály lze pomocí P Series měřit?

Přístroj dokáže měřit vícevrstvé povlaky, typicky kombinace Cu/Ni/Au, Ni/Au, Zn/Ni, Sn, Sn/Ag/Cu, Ag, Pd a další. Umí vyhodnocovat až 5 vrstev (4 povlaky + základní materiál) a současně analyzovat složení povlaků včetně obsahu prvků v slitnách.

Je měření tloušťky povlaku nedestruktivní?

Ano, Bowman P Series využívá EDXRF metodu, která je zcela nedestruktivní. Povlak ani vzorek se při měření nepoškodí, proto je přístroj vhodný i pro 100% kontrolu výrobků nebo měření drahých dílů a hotových sestav.

Jak přesné je měření a jaká je opakovatelnost?

Díky 50 W mikro-fokusové rentgence, vysoce citlivému SDD detektoru a optimalizovaným měřicím geometriím dosahuje P Series velmi vysoké přesnosti a opakovatelnosti i u tenkých povlaků. Při správné kalibraci je možné spolehlivě měřit povlaky v řádu desítek až stovek nanometrů, v závislosti na typu materiálu a matrici.

Podporuje přístroj průmyslové normy (IPC, ASTM, ISO)?

Ano, P Series je konstruován pro měření v souladu s normami IPC-4552, IPC-4553, IPC-4554, ASTM B568 a DIN EN ISO 3497. To je klíčové pro výrobce, kteří dodávají do automotive, letectví, telekomunikací nebo dalších regulovaných odvětví.

Je možné měření automatizovat, například pro větší série vzorků?

Ano, integrovaný programovatelný XY stůl umožňuje definovat matrici měřicích bodů, měřit více dílů v přípravku nebo automaticky projíždět celé PCB. Software podporuje ukládání měřicích programů, tvorbu reportů a export dat do podnikového systému.

Jaké jsou požadavky na instalaci a obsluhu?

Přístroj je stolní, s typickou hmotností desítek kilogramů, a nevyžaduje speciální stavební úpravy. Potřebuje standardní napájení, odvětrávané prostředí a jednoho zaškoleného operátora. O zaškolení obsluhy, návrh kalibrací a průběžnou podporu se staráme my jako lokální dodavatel.

Srovnání s alternativními systémy měření tloušťky povlaků

Na trhu existuje řada systémů pro měření tloušťky povlaků založených na magnetické indukci nebo vířivých proudech, případně základních XRF přístrojích s menší komorou a omezeným automatickým polohováním vzorku. Bowman P Series se od těchto řešení liší především v následujících oblastech:

Univerzálnější vzorková komora

Mnoho stolních přístrojů má relativně malou komoru a jsou optimalizovány pro měření jednotlivých malých dílů. P Series nabízí velkorysou měřicí komoru, do které lze umístit jak malé komponenty, tak celá osazená PCB nebo větší mechanické díly. To snižuje potřebu přípravků a šetří čas při přípravě měření.

Programovatelný XY stůl a automatizace

Zatímco jednodušší systémy často vyžadují ruční posouvání vzorku, Bowman P Series má plně programovatelný XY stůl. Uživatel může definovat matici měřicích bodů, automaticky projíždět desky plošných spojů nebo celé přípravky s větším počtem součástí. To je zásadní výhoda při sériové výrobě a statistickém vzorkování.

Vysoce výkonná XRF konfigurace

P Series kombinuje 50 W mikro-fokusovou rentgenku, vysoce citlivý SDD detektor a optimalizované měřicí geometrie. Ve srovnání s přístroji, které využívají buď starší detektorovou technologii, nebo méně výkonné trubice, to znamená delší životnost, kratší měřicí časy a lepší rozlišení mezi tenkými vrstvami.

Měření komplexních vícevrstvých systémů

Pro jednoduché povlaky (např. jedna vrstva zinku na oceli) mohou být dostačující i základní metody měření. Pokud ale potřebujete měřit vícevrstvé systémy typu Cu/Ni/Au, Zn/Ni nebo více pájecích vrstev na PCB, je výhodou mít XRF přístroj, který dovede současně vyhodnotit až 5 vrstev a analyzovat chemické složení povlaků. To je oblast, ve které P Series vyniká.

Shoda s normami a sledovatelnost výsledků

P Series je navržen tak, aby podporoval měření v souladu s normami IPC-4552/4553/4554, ASTM B568 a DIN EN ISO 3497. Spolu se záznamem parametrů měření, uložením snímků z kamery a automatickými reporty poskytuje vysokou míru sledovatelnosti, kterou mnoho jednodušších systémů nenabízí.

Pokud aktuálně používáte pouze základní měření tloušťky povlaku nebo ruční přístroj, představuje Bowman P Series logický krok k vyšší přesnosti, automatizaci a lepší kontrole kvality v celém výrobním procesu.

Pro informace o ceně spektrometru volejte +420 606 424 759

Vystavíme cenovou nabídku přímo na klíč,
poskytneme ceník spektrometrů v konfiguraci pro Vaši aplikaci.

Mám zájem
o cenovou nabídku
Vytištěno ze stránky https://www.spektrometry.cz/mereni-tloustky-vrstev/bowman-p-series/index.php