Vytištěno ze stránky https://www.spektrometry.cz/mereni-tloustky-vrstev/spektrometr-pro-mereni-tloustky-vrstev.php

Měření tloušťky vrstev - spektrometr pro měření tloušťky vrstev a tloušťky povlaku

Ruční spektrometr VANTA pro měření tlouškty vrstev

Přesné měření tloušťky vrstev ručním spektrometrem VANTA.

Spektrometry VANTA využívají energodisperzního principu (ED-XRF) a jsou určeny především k měření tloušťky povrchových vrstev (typicky galvanického pokovení), s možností přesné volby měřeného místa (integrovaná zaměřovací kamera) i jeho rozměrů (možnost volby velikosti měřené plochy mezi 3 mm a 9 mm). Mohou měřit i několik kovových vrstev na sobě (až 3 vrstvy), případně v některých případech pod vrstvou laku. Díky provedení přístroje lze měřit tloušťky vrstev na různých typech a tvarech vzorků.


Potřebujete více informací o produktu nebo máte zájem o cenovou nabídku?

Základní charakteristika přístroje pro měření tloušťky vrstev

Vyberte galvanizovaný, elektrolyticky pokovený nebo potažený vzorek na libovolném substrát: kov, plast, sklo nebo dokonce dřevo. Podmínkou je, aby substrát neobsahoval rušivé množství prvku povrchové vrstvy.

Lze využít tovární dodané kalibrace, nebo si vytvořit kalibraci vlastní pomocí funkce tvorby aplikace s volitelnou možností zpřesnění. Analyzátory VantaTM rychle a přesně měří až tři vrstvy povlaků na úrovni mikronů. Hloubka vniku RTG záření z přístroje je závislá na povrchové vrstvě, typicky se jedná o jednotky až desítky mikronů - viz tabulka s vybranými prvky - další prvky lze doplnit.

Měření tloušťky vrstev - snadno, přesně a rychle

Výhoda metody ED-XRF je její nedestruktivita, přesnost a rychlost. V jednom přístroji lze nastavit celou škálu aplikaci jako je například pozlacení, chromování, pozinkování (v µm i g/m2), niklování, pocínování, postříbření, fosfátování (automotive), nanášení vrstev wolframu, titanu a dalších. Lze dokonce měřit i exotické povrchy jako je například platina na povrchu lopatek turbín a podobné. Software spektrometru je lokalizován do češtiny. Zapnutí přístroje trvá pouhých 20 vteřin. Měřit lze i obsah kovů v galvanické lázni a také prvkové chemické složení materiálů ve výrobě. Přístroj VANTA vyniká perfektní přesností, reprodukovatelností a nezávislostí na vnějších vlivech (teplota, tlak, prostředí - IP 64). Tato metoda je také označována jako Coating Thickness gauge (CT) by XRF.

Další fotografie - spektrometr VANTA pro měření tloušťky vrstev

Vystavíme cenovou nabídku přímo na klíč,
poskytneme ceník analyzátorů tloušťky vrstev v konfiguraci pro Vaši aplikaci.

Mám zájem
o cenovou nabídku
Vytištěno ze stránky https://www.spektrometry.cz/mereni-tloustky-vrstev/spektrometr-pro-mereni-tloustky-vrstev.php