Přesné měření tloušťky vrstev a pasivace ručním spektrometrem VANTA a stolními přístroji.
Spektrometry VANTA využívají energodisperzního principu (ED-XRF) a jsou určeny především k měření tloušťky povrchových vrstev (typicky galvanického pokovení - měření tloušťky pokovené vrstvy), s možností přesné volby měřeného místa (integrovaná zaměřovací kamera) i jeho rozměrů (možnost volby velikosti měřené plochy mezi 3 mm a 9 mm). Mohou měřit i několik kovových vrstev na sobě (až 3 vrstvy), případně v některých případech pod vrstvou laku. Díky provedení přístroje lze měřit tloušťky vrstev na různých typech a tvarech vzorků.
Potřebujete více informací o produktu nebo máte zájem o cenovou nabídku?
Základní charakteristika přístroje pro měření tloušťky vrstev
Vyberte galvanizovaný, elektrolyticky pokovený nebo potažený vzorek na libovolném substrát: kov, plast, sklo nebo dokonce dřevo. Podmínkou je, aby substrát neobsahoval rušivé množství prvku povrchové vrstvy.
Lze využít tovární dodané kalibrace, nebo si vytvořit kalibraci vlastní pomocí funkce tvorby aplikace s volitelnou možností zpřesnění. Analyzátory VantaTM rychle a přesně měří až tři vrstvy povlaků na úrovni mikronů. Hloubka vniku RTG záření z přístroje je závislá na povrchové vrstvě, typicky se jedná o jednotky až desítky mikronů - běžně měřené vrstvy a povlaky z Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Y, Zr, Nb, Mo, Rh, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hf, Ta, W, Re, Pt, Au, Pb - další type vrstev a povlaků lze doplnit - kontaktujte nás.
Měření tloušťky vrstev - snadno, přesně a rychle
Výhoda metody ED-XRF je její nedestruktivita, přesnost a rychlost. Výstupem měření je tloušťka vrstvy v mikronech nebo jiné zvolené jednotce. V jednom přístroji lze nastavit celou škálu aplikaci jako je například pozlacení, chromování, pozinkování (v µm i g/m2), niklování, pocínování, postříbření, fosfátování (automotive), nanášení vrstev wolframu, titanu a dalších. Lze dokonce měřit i exotické povrchy jako je například platina na povrchu lopatek turbín a podobné. Software spektrometru je lokalizován do češtiny. Zapnutí přístroje trvá pouhých 20 vteřin. Měřit lze i obsah kovů v galvanické lázni a také prvkové chemické složení materiálů ve výrobě. Přístroj VANTA vyniká perfektní přesností, reprodukovatelností a nezávislostí na vnějších vlivech (teplota, tlak, prostředí - IP 64). Tato metoda je také označována jako Coating Thickness gauge (CT) by XRF nebo měření pokovené vrstvy.
Aplikace
- Měření tloušťky vrstvy galvanických povlaků v mikrometrech - povrchové vrstvy. Měření tloušťky povlaků.
- Analýza fosfátování v g/m2 - fosfátové konverzní povlaky
- Analýza bezchromových pasivačních povlaků v mg/m2 - Povlakování TiO2 (passivation layer)
- Analýza Ti-Zr konverzního povlaku na výrobku
- Konverzní povlaky na kovových materiálech - Stanovení plošné hmotnosti povlaku - KOROZE A OCHRANA MATERIÁLU - Ochranné vrstvy anorganické nekovové
- Kontrola pro Bezchromátové pasivace povrchu žárově pozinkovaných součástí
- Přesnější metoda než měření tloušťky ultrazvukem. Měřiče tloušťky vrstev.
Od roku 1930 se používaly jako jeden z velmi účinných pasivačních prostředků roztoky chromátů. Do roku 2004 bylo 70 % elektrolytických zinkových povlaků chromátováno žlutým chromátem, tj. pasivačním povlakem na bázi Cr6+. Směrnice 2000/53/EG a 2011/65/EU zakázaly přítomnost šestimocného chromu (Cr6+) pro ochranu proti korozi. Platnost Směrnice 2000/53/EG byla posunuta, ale i tak byly již téměř 10 let postupně nahrazovány pasivační povlaky na bázi chromu alternativními povlaky. Vývoj zahrnoval řadu chemikálií – na bázi organofosforových kyselin (SAM), solí vzácných zemin (céru, molybdénu, lanthanu), organických polymerů (polysiloxanů, karboxylových kyselin), nanočástic, atd., až se v podstatě ustálil na povlacích vznikajících z hexafluorotitaničitů a zirkoničitanů.
Přenosné analyzátory XRF společnosti Evident, pro které jsme výhradní distributor v ČR a SR, poskytují rychlou a nedestruktivní metodu pro přesné stanovení tloušťky bezchromanových konverzních povlaků. Tloušťky musí spadat do cílového rozsahu, aby bylo zajištěno, že následné nátěry nátěrů správně přilnou a že součást je chráněna proti korozi. Titan-zirkoniové (Ti-Zr) konverzní povlaky jsou populární nechromové alternativy. Ačkoli jsou bezpečnější, jsou také bezbarvé, což operátorovi znemožňuje vizuálně určit, zda byl povlak nanesen rovnoměrně a ve správné tloušťce. Pokud je povlak příliš silný, existuje možnost selhání adheze, zatímco je-li povlak příliš tenký, hliníková slitina s větší pravděpodobností koroduje. Právě ruční spektrometr VANTA umožňuje okamžité ověření nejen přítomnosti, ale i tloušťky povlaku.
Další fotografie - spektrometr VANTA pro měření tloušťky vrstev
Stolní spektrometry Bowman
V portfoliu máme čerstvě stolní systémy Bowman série P, K, L, které mají širokou škálu velikostí X,Y,Z stolků s posuvem, různých přepínatelných velikostí kolimátorů a velikostí měřících komor. Příklad: Motorizované přepínání kolimátorů: 4, 8, 12 a 24mil kulaté (0.1, 0.2, 0.3 a 0.6 mm). Pozn. 1 mil = 0.0254 mm. Na přání lze kolimátory přizpůsobit. Analytický software
K dispozici je advanced Archer Software Thin Film FP pro analýzy tloušťky vrstev (i více vrstev na sobě) s širokým rozsahem aplikací včetně balíčku pro analýzu složení slitin a roztoků.
Potřebujete více informací o produktu nebo máte zájem o cenovou nabídku?
Stolní spektrometry Bowman Série P, K, L
Spektrometry Bowman XRF jsou precizní stolní přístroje navržené pro měření tloušťky a složení povlaků na substrátu a pro analýzu slitin (bulk alloy analysis). Využívají metodu rentgenové fluorescence (XRF) a dokáží současně měřit až pět vrstev povlaku. Všechny systémy jsou technicky na špičkové úrovni a lokálně podporovány. Vyrábí se v USA (Made in the USA). Základem je mikro-fokusní rentgenka s dlouhou životností a wolframovou (W) anodou s výkonem 50 W (50kV a 1mA). Rozsah měřených prvků je od hliníku (Aluminum 13) po uran (Uranium 92).
P SERIES XRF (Systém pro měření povlaků s vysokou přesností)
Čím je výjimečný: Měří nejširší škálu tvarů, velikostí a množství vzorků.
Pro koho je určen: Spektrometr P Series je nejvhodnější pro zákazníky, kteří pracují s malými díly/součástkami, jako jsou spojovací prvky, konektory nebo DPS (PCB). Je ideální, pokud potřebujete testovat více vzorků nebo míst na novou šarži materiálu nebo pokud si přejete automatizovat měření na více vzorcích. Přístroj je navržen tak, aby splňoval požadavky normy IPC-4552.
Klíčové vlastnosti:
- Přesný programovatelný X-Y stolek: Umožňuje snadnou úpravu měřicích míst pomocí myši/softwarového rozhraní,. Systém podporuje vlastní programy pro automatické měření více míst na vzorku.
- Automatizace: Větší objemy dílů lze testovat v automatickém režimu bez zásahu operátora.
- Konfigurace: Standardní konfigurace zahrnuje 4-polohový kolimátor a kameru s proměnným zaostřením pro měření v zapuštěných oblastech. K dispozici je SDD detektor.
- Analýza: Měření až 5 vrstev (4 vrstvy + základ) a 10 prvků v každé vrstvě. Možnost simultánní analýzy složení až 25 prvků.
- Rozměry stolku: Standardní programovatelný X-Y stůl má rozměry 38,1 cm x 33 cm s pojezdem 15,24 cm x 12,7 cm. K dispozici je i volitelná rozšířená programovatelná XY základna (Extended Programmable XY) s pojezdem 25,4 cm x 25,4 cm a velikostí stolku 25" x 25" (nebo 28" x 25" pro rozšířenou základnu).
- Vnitřní rozměry komory: 140 mm (V), 310 mm (Š), 340 mm (H).
- Hmotnost: 32–50 kg.
Vystavíme cenovou nabídku přímo na klíč,
poskytneme ceník analyzátorů tloušťky vrstev v konfiguraci pro Vaši aplikaci.
Mám zájem o cenovou nabídku