Vytištěno ze stránky https://www.spektrometry.cz/mereni-tloustky-vrstev/spektrometr-pro-mereni-tloustky-vrstev.php

Měření tloušťky vrstev - spektrometr pro měření tloušťky vrstev, tloušťky povlaku a pasivace

Ruční spektrometr VANTA pro měření tlouškty vrstev

Přesné měření tloušťky vrstev a pasivace ručním spektrometrem VANTA.

Spektrometry VANTA využívají energodisperzního principu (ED-XRF) a jsou určeny především k měření tloušťky povrchových vrstev (typicky galvanického pokovení - měření tloušťky pokovené vrstvy), s možností přesné volby měřeného místa (integrovaná zaměřovací kamera) i jeho rozměrů (možnost volby velikosti měřené plochy mezi 3 mm a 9 mm). Mohou měřit i několik kovových vrstev na sobě (až 3 vrstvy), případně v některých případech pod vrstvou laku. Díky provedení přístroje lze měřit tloušťky vrstev na různých typech a tvarech vzorků.


Potřebujete více informací o produktu nebo máte zájem o cenovou nabídku?

Základní charakteristika přístroje pro měření tloušťky vrstev

Vyberte galvanizovaný, elektrolyticky pokovený nebo potažený vzorek na libovolném substrát: kov, plast, sklo nebo dokonce dřevo. Podmínkou je, aby substrát neobsahoval rušivé množství prvku povrchové vrstvy.

Lze využít tovární dodané kalibrace, nebo si vytvořit kalibraci vlastní pomocí funkce tvorby aplikace s volitelnou možností zpřesnění. Analyzátory VantaTM rychle a přesně měří až tři vrstvy povlaků na úrovni mikronů. Hloubka vniku RTG záření z přístroje je závislá na povrchové vrstvě, typicky se jedná o jednotky až desítky mikronů - běžně měřené vrstvy a povlaky z Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Y, Zr, Nb, Mo, Rh, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hf, Ta, W, Re, Pt, Au, Pb - další type vrstev a povlaků lze doplnit - kontaktujte nás.

Měření tloušťky vrstev - snadno, přesně a rychle

Výhoda metody ED-XRF je její nedestruktivita, přesnost a rychlost. Výstupem měření je tloušťka vrstvy v mikronech nebo jiné zvolené jednotce. V jednom přístroji lze nastavit celou škálu aplikaci jako je například pozlacení, chromování, pozinkování (v µm i g/m2), niklování, pocínování, postříbření, fosfátování (automotive), nanášení vrstev wolframu, titanu a dalších. Lze dokonce měřit i exotické povrchy jako je například platina na povrchu lopatek turbín a podobné. Software spektrometru je lokalizován do češtiny. Zapnutí přístroje trvá pouhých 20 vteřin. Měřit lze i obsah kovů v galvanické lázni a také prvkové chemické složení materiálů ve výrobě. Přístroj VANTA vyniká perfektní přesností, reprodukovatelností a nezávislostí na vnějších vlivech (teplota, tlak, prostředí - IP 64). Tato metoda je také označována jako Coating Thickness gauge (CT) by XRF nebo měření pokovené vrstvy.

Aplikace

  • Měření tloušťky vrstvy galvanických povlaků v mikrometrech - povrchové vrstvy. Měření tloušťky povlaků.
  • Analýza fosfátování v g/m2 - fosfátové konverzní povlaky
  • Analýza bezchromových pasivačních povlaků v mg/m2 - Povlakování TiO2 (passivation layer)
  • Analýza Ti-Zr konverzního povlaku na výrobku
  • Konverzní povlaky na kovových materiálech - Stanovení plošné hmotnosti povlaku - KOROZE A OCHRANA MATERIÁLU - Ochranné vrstvy anorganické nekovové
  • Kontrola pro Bezchromátové pasivace povrchu žárově pozinkovaných součástí
  • Přesnější metoda než měření tloušťky ultrazvukem. Měřiče tloušťky vrstev.

Od roku 1930 se používaly jako jeden z velmi účinných pasivačních prostředků roztoky chromátů. Do roku 2004 bylo 70 % elektrolytických zinkových povlaků chromátováno žlutým chromátem, tj. pasivačním povlakem na bázi Cr6+. Směrnice 2000/53/EG a 2011/65/EU zakázaly přítomnost šestimocného chromu (Cr6+) pro ochranu proti korozi. Platnost Směrnice 2000/53/EG byla posunuta, ale i tak byly již téměř 10 let postupně nahrazovány pasivační povlaky na bázi chromu alternativními povlaky. Vývoj zahrnoval řadu chemikálií – na bázi organofosforových kyselin (SAM), solí vzácných zemin (céru, molybdénu, lanthanu), organických polymerů (polysiloxanů, karboxylových kyselin), nanočástic, atd., až se v podstatě ustálil na povlacích vznikajících z hexafluorotitaničitů a zirkoničitanů.

Přenosné analyzátory XRF společnosti Olympus, pro které jsme výhradní distributor v ČR a SR, poskytují rychlou a nedestruktivní metodu pro přesné stanovení tloušťky bezchromanových konverzních povlaků. Tloušťky musí spadat do cílového rozsahu, aby bylo zajištěno, že následné nátěry nátěrů správně přilnou a že součást je chráněna proti korozi. Titan-zirkoniové (Ti-Zr) konverzní povlaky jsou populární nechromové alternativy. Ačkoli jsou bezpečnější, jsou také bezbarvé, což operátorovi znemožňuje vizuálně určit, zda byl povlak nanesen rovnoměrně a ve správné tloušťce. Pokud je povlak příliš silný, existuje možnost selhání adheze, zatímco je-li povlak příliš tenký, hliníková slitina s větší pravděpodobností koroduje. Právě ruční spektrometr VANTA umožňuje okamžité ověření nejen přítomnosti, ale i tloušťky povlaku.

Další fotografie - spektrometr VANTA pro měření tloušťky vrstev

Vystavíme cenovou nabídku přímo na klíč,
poskytneme ceník analyzátorů tloušťky vrstev v konfiguraci pro Vaši aplikaci.

Mám zájem
o cenovou nabídku
Vytištěno ze stránky https://www.spektrometry.cz/mereni-tloustky-vrstev/spektrometr-pro-mereni-tloustky-vrstev.php